JPS-9200型X射線(xiàn)光電子能譜儀
X 射線(xiàn)光電子能譜(XPS)是材料科學(xué)和發(fā)展的領(lǐng)域中最廣泛使用的表面分析技術(shù)。
X 射線(xiàn)光電子能譜(XPS)是材料科學(xué)和發(fā)展的領(lǐng)域中最廣泛使用的表面分析技術(shù)。
型號:JPS-9200
品牌:日本電子
產(chǎn)地:日本
制造商:日本電子
X 射線(xiàn)光電子能譜(XPS)是材料科學(xué)和發(fā)展的領(lǐng)域中最廣泛使用的表面分析技術(shù)。其原理是利用X射線(xiàn)束(一般會(huì )使鋁陽(yáng)極或鎂陽(yáng)極)作為入射源,照射在樣品表面導致讓光電子從原子的核心層被激發(fā)出。根據測得的光電子所發(fā)出的電子動(dòng)能,再依照能量守恒定律就可以知道電子的結合能,從而也就可知道樣品表面是何物質(zhì)。
功能用途:樣品表層元素及價(jià)態(tài)分析、深度分析、UPS紫外光電子能譜結構分析等
技術(shù)特點(diǎn):具有多種非單色化及單色化的X射線(xiàn)源,大功率羅蘭圓提供更高的分析及能量分辨率,兼具Ar離子或Ar原子團簇模式刻蝕及紫外光電子能譜(UPS)測試等可選附件。